- Модель:378-800-12
- Артикул:378-800-12
- 50
- Abkürzungen in der Tabelle:N.A.: Numerische AperturW.D.: ArbeitsabstandP.D.: Parfokaler Abstandf: BrennweiteR: AuflösungsvermögenD.F.: SchärfentiefeSichtfeld 1: Reales Sichtfeld mit Okular ø 24 mmSichtfeld 2: Reales Sichtfeld mit 1/2"-Sensor
- Arbeitsabstand:13/11 mm
- Beobachtung/Interferometer:Beobachtung
- D.F.:440 µm
- Endlich/Unendlich:Unendlich
- f:200 mm
- Funktionen:M Plan Apo für HellfeldmikroskopieKompatibel mit Mikroskopen der Serien VMU, FS70, MF-U und Hyper MF-U.Hinweis: Um Linsenreflexionen bei der Verwendung von 1x-Objektiven mit Koaxialbeleuchtung zu vermeiden, sollten diese zusammen mit der Polarisationseinheit am Mikroskop und der angebrachten 1/4-Wellenplatte verwendet werden.
- Gewicht:300 g
- Glaskompensation:Nein
- Hellfeld-/Dunkelfeldmikroskopie:Hellfeld
- Hochauflösend:Nein
- Korrigierte Wellenlänge:436 - 656 nm
- Laseranwendung:Nein
- Modell:M Plan Apo 1X
- N.A.:0.025
- P.D.:95 mm
- R:11 µm
- Sichtfeld 1:ø24 mm
- Sichtfeld 2:4,8 x 6,4 mm
- Spektraler Bereich:VIS
- Vergrößerung:1x
M Plan Apo-Objektive
- Großer Arbeitsabstand
- Unendlich korrigiert
- Geeignet für Hellfeldmikroskopie
- Hochwertige plan‑apochromatische Optik
- Plane Abbildungsfläche über das gesamte Sichtfeld
