- Модель:378-825-17
- Артикул:378-825-17
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- Abkürzungen in der Tabelle:N.A.: Numerische AperturW.D.: ArbeitsabstandP.D.: Parfokaler Abstandf: BrennweiteR: AuflösungsvermögenD.F.: SchärfentiefeSichtfeld 1: Reales Sichtfeld mit Okular ø 24 mmSichtfeld 2: Reales Sichtfeld mit 1/2"-Sensor
- Arbeitsabstand:17 mm
- Beobachtung/Interferometer:Beobachtung
- D.F.:1,6 µm
- Endlich/Unendlich:Unendlich
- f:4 mm
- Funktionen:Nahinfrarotlicht korrigiertM Plan Apo NIR für HellfeldmikroskopieKompatibel mit Mikroskopen der Serien VMU und FS70.
- Gewicht:350 g
- Glaskompensation:Nein
- Hellfeld-/Dunkelfeldmikroskopie:Hellfeld
- Hochauflösend:Nein
- Korrigierte Wellenlänge:480-1800 nm
- Laseranwendung:Nein
- M Plan Apo NIR:Hinweis: Diese Objektive wurden entwickelt, um einen gleichbleibenden Arbeitsabstand über einen weiten Wellenlängenbereich (480 - 1800 nm) zu gewährleisten.Die M Plan NIR-Serie ist daher bestens für Laseranwendungen geeignet. Bei Wellenlängen über 1100 nm kann die Fokusposition jedoch aufgrund von Variation der Glasdispersion und des Brechungsindex leicht von der im sichtbaren Licht abweichen.
- Modell:M Plan Apo NIR 50X
- N.A.:0,42
- P.D.:95 mm
- R:0,7 µm
- Sichtfeld 1:ø0,48 mm
- Sichtfeld 2:0,1 x 0,13 mm
- Spektraler Bereich:NIR
- Vergrößerung:50x
M Plan Apo NIR / M Plan Apo NIR HR-Objektive
- Unendlich korrigiert
- Geeignet für Hellfeldmikroskopie und Laseranwendungen
- Großer Arbeitsabstand
- Hochwertige plan‑apochromatische Optik
- Wellenlängenkorrektur vom sichtbaren Bereich bis in den nahen Infrarotbereich (480–1800 nm)
- Hochauflösende Ausführung verfügbar (HR‑Variante)
