- Модель:363-716-10
- Артикул:363-716-10
- 50
- Auflösung des Maßstabs:0.01 µm
- Beleuchtung:Durchlicht: WeißlichtKoaxiallicht: WeißlichtPRL: WeißlichtWLI: Halogen
- Genauigkeit der Bildverarbeitungsmessung:E1X,E1Y*1 = (0,8+2L/1000)E1Z*1 = (1,5+2L/1000)E2XY*1 = (1,4+3L/1000)Genauigkeit spezifiziert mit folgender Optik: 2,5X-Objektiv (QV-HR2.5X oder QV-SL2.5X) und Tubuslinse mittlerer Vergrößerung*1 Bestimmt entsprechend dem Mitutoyo Inspektionsverfahren.L: Messlänge in mm
- Max. Messtischbelastung:25 kg
- Messbereich (X × Y × Z):400 x 400 x 240 mm
- Modell:QVW-H404P1L-E
- Optik:programmierbarer Vergrößerungswechsler 1x-2x-6x
- WLI Z-Achsen-Bereich (max.):QVWLI A-5X, QVWLI A-10X: 6,3 mm, QVWLI A-25X: 3,2 mm, QVWLI A-50X: 1 mm
- WLI-Messbereich (BxTxH):315 x 400 x 240
Die Quick Vision WLI ist ein Multisensor‑Bildverarbeitungsmessgerät, das die berührungslose Messung mit dem Bildverarbeitungssensor der Quick‑Vision‑Serie mit einem hochgenauen Weißlicht‑Interferometer (WLI) kombiniert. Dadurch lassen sich neben klassischen 2D‑Messungen auch topografische Oberflächenanalysen und Rauheitsmessungen durchführen.
- Multisensor‑System aus Quick‑Vision‑Bildverarbeitung und WLI‑Sensor für hochauflösende topografische 3D‑Messungen.
- WLI‑Sensor zur berührungslosen Erfassung kleinster Oberflächentopografien und Rauheitskennwerten.
- Einfache Ausrichtung und präzise Positionierung des Messbereichs über den Bildverarbeitungssensor.
- Volle QVPAK‑Funktionalität für integrierte Auswertung, Automatisierung und Dokumentation.