• Модель:
    378-813-3
  • Артикул:
    378-813-3
  • Abkürzungen in der Tabelle:
    N.A.: Numerische AperturW.D.: ArbeitsabstandP.D.: Parfokaler Abstandf: BrennweiteR: AuflösungsvermögenD.F.: SchärfentiefeSichtfeld 1: Reales Sichtfeld mit Okular ø24 mmSichtfeld 2: Reales Sichtfeld mit 1/2"-Sensor
  • Arbeitsabstand:
    13 mm
  • Beobachtung/Interferometer:
    Beobachtung
  • D.F.:
    0,9 µm
  • Endlich/Unendlich:
    Unendlich
  • f:
    2 mm
  • Funktionen:
    M Plan Apo SL für HellfeldmikroskopieKompatibel mit Mikroskopen der Serien VMU, FS70, MF-U und Hyper MF-U.Diese Objektive bieten einen extra großen Arbeitsabstand.
  • Gewicht:
    290 g
  • Glaskompensation:
    Nein
  • Hellfeld-/Dunkelfeldmikroskopie:
    Hellfeld
  • Hochauflösend:
    Nein
  • Korrigierte Wellenlänge:
    436 - 656 nm
  • Laseranwendung:
    Nein
  • Modell:
    M Plan Apo SL 100X
  • N.A.:
    0,55
  • P.D.:
    95 mm
  • R:
    0,5 µm
  • Sichtfeld 1:
    ø0,24 mm
  • Sichtfeld 2:
    0,05 x 0,06 mm
  • Spektraler Bereich:
    VIS
  • Vergrößerung:
    100x
168 480 грн.
Есть в наличии
M Plan Apo SL-Objektive
  • Sehr großer Arbeitsabstand
  • Unendlich korrigiert
  • Geeignet für Hellfeldmikroskopie
  • Hochwertige plan‑apochromatische Optik
  • Plane Abbildungsfläche über das gesamte Sichtfeld
378-813-3_d1.eps

Вы смотрели

Befestigungs-/Klemmmaterial 176-107

Befestigungs-/Klemmmaterial 176-107

Модель:176-107
16 172 грн.
Radius-/Winkel-Messplatte D = 500 mm 63AAA533

Radius-/Winkel-Messplatte D = 500 mm 63AAA533

Модель:63AAA533
39 624 грн.
M Plan Apo NIR HR 50X 378-863-5

M Plan Apo NIR HR 50X 378-863-5

Модель:378-863-5
405 600 грн.
Radius-/Winkel-Messplatte, ∅ 250 mm 63AAA530

Radius-/Winkel-Messplatte, ∅ 250 mm 63AAA530

Модель:63AAA530
23 764 грн.