- Модель:378-847
- Артикул:378-847
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- Abkürzungen in der Tabelle:N.A.: Numerische AperturW.D.: ArbeitsabstandP.D.: Parfokaler Abstandf: BrennweiteR: AuflösungsvermögenD.F.: SchärfentiefeSichtfeld 1: Reales Sichtfeld mit Okular ø 24 mmSichtfeld 2: Reales Sichtfeld mit 1/2"-Sensor
- Arbeitsabstand:Durch Glas: 30,6 mmIn Luft: 29,42 mm
- Beobachtung/Interferometer:Beobachtung
- D.F.:3,5 µm
- Endlich/Unendlich:Unendlich
- f:10 mm
- Funktionen:Deckglas-korrigierte ObjektiveG Plan Apo für HellfeldmikroskopieKompatibel mit Mikroskopen der Serien VMU / FS70 / MF-U / Hyper MF-U.Mit diesen Objektiven ist die Betrachtung einer Probe durch Glas möglich (Dicke: 3,5 mm).
- Gewicht:270 g
- Glaskompensation:Ja
- Hellfeld-/Dunkelfeldmikroskopie:Hellfeld
- Hochauflösend:Nein
- Korrigierte Wellenlänge:436 - 656 nm
- Laseranwendung:Nein
- Modell:G Plan Apo 20X (t3,5)
- N.A.:0,28
- P.D.:96,19 mm
- R:1 µm
- Sichtfeld 1:ø1,2 mm
- Sichtfeld 2:0,24 x 0,32 mm
- Spektraler Bereich:VIS
- Vergr./Glasdicke:t3,5 mm
- Vergrößerung:20x
G Plan Apo-Objektive
- Ausgelegt für Beobachtung durch 3,5 mm dickes Deckglas
- Unendlich korrigiert
- Geeignet für Hellfeldmikroskopie
- Hochwertige plan‑apochromatische Optik
Hinweis: Eine anwendungsspezifische Deckglas‑Korrektur kann kundenspezifisch entwickelt werden. Dicke, Material und Brechungsindex sind innerhalb üblicher Grenzen spezifizierbar.